Show simple item record

dc.rights.licenseAtribución-NoComercial 4.0 Internacional
dc.contributor.authorRios Griego, John Henry
dc.date.accessioned2019-06-27T23:53:48Z
dc.date.available2019-06-27T23:53:48Z
dc.date.issued2011
dc.identifier.urihttps://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/35066
dc.description.abstractLos planes de muestreo simple son una de las herramientas empleada en la industria para aceptar o rechazar lotes. Normalmente, los parámetros necesarios -riesgo del productor y riesgo del consumidor, y nivel aceptable de calidad y el nivel límite de calidad- son asignados por cada uno productor o consumidor buscando su beneficio personal. Tomar decisiones en esta forma no tiene en cuenta el daño que un producto no-conforme genera a la sociedad, por ejemplo el daño producido por una maquina defectuosa al operador. En el presente estudio desarrollamos un modelo que combina planes de muestreo simple por atributo con la carta de control del número de productos no-conformes. El modelo maximiza el bienestar social encontrando políticas óptimas de precio, tamaño de muestra y número de aceptación. Esta metodología permite identificar cambios inesperados en el proceso de producción e implementar planes de recuperación de clientes afectados por adquirir productos defectuosos. La aplicación de esta metodología en una empresa de confecciones mostró un incremento del 8% en el beneficio, cuando comparamos estos resultados con el proceso actual. Finalmente, nuestra metodología también permite implementar planes de mejora continua.
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad Nacional de Colombia Sede Medellín
dc.relationhttp://revistas.unal.edu.co/index.php/dyna/article/view/22411
dc.relation.ispartofUniversidad Nacional de Colombia Revistas electrónicas UN Dyna
dc.relation.ispartofDyna
dc.relation.ispartofseriesDyna; Vol. 78, núm. 169 (2011); 53-61 DYNA; Vol. 78, núm. 169 (2011); 53-61 2346-2183 0012-7353
dc.rightsDerechos reservados - Universidad Nacional de Colombia
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/
dc.titleDiseño de un plan de muestreo simple por atributos en busca de un optimo social
dc.typeArtículo de revista
dc.type.driverinfo:eu-repo/semantics/article
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.identifier.eprintshttp://bdigital.unal.edu.co/25146/
dc.relation.referencesRios Griego, John Henry (2011) Diseño de un plan de muestreo simple por atributos en busca de un optimo social. Dyna; Vol. 78, núm. 169 (2011); 53-61 DYNA; Vol. 78, núm. 169 (2011); 53-61 2346-2183 0012-7353 .
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subject.proposalOptimización
dc.subject.proposalCartas de control
dc.subject.proposalPlanes de muestreo simple
dc.subject.proposalActualización Bayesiana
dc.subject.proposalProgramación dinámica
dc.type.coarhttp://purl.org/coar/resource_type/c_6501
dc.type.coarversionhttp://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
dc.type.contentText
dc.type.redcolhttp://purl.org/redcol/resource_type/ART
oaire.accessrightshttp://purl.org/coar/access_right/c_abf2


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Atribución-NoComercial 4.0 InternacionalThis work is licensed under a Creative Commons Reconocimiento-NoComercial 4.0.This document has been deposited by the author (s) under the following certificate of deposit