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dc.rights.licenseAtribución-NoComercial 4.0 Internacional
dc.contributor.authorBonilla-Jaimes, John Deiver
dc.contributor.authorHenao-Martínez, Jose Antonio
dc.contributor.authorMendoza-Luna, Carolina
dc.contributor.authorCastellanos-Alarcón, Oscar Mauricio
dc.contributor.authorRíos-Reyes, Carlos Alberto
dc.date.accessioned2019-07-02T18:39:30Z
dc.date.available2019-07-02T18:39:30Z
dc.date.issued2016-01-01
dc.identifier.issnISSN: 2346-2183
dc.identifier.urihttps://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/60586
dc.description.abstractMediante el uso de la difracción de rayos-X de polvo (DRXP), microdifracción de rayos-X (mDXR) y microscopía electrónica de barrido, la caracterización estructural de minerales resulta ser mucho más fiable y precisa. La identificación y cuantificación elemental y composicional de los minerales mediante estas técnicas no destructivas, mejoran la calidad de los resultados y permiten realizar un análisis completo del material. Los datos obtenidos mediante estas técnicas revelaron la presencia de granate tipo espesartina, además de los elementos y compuestos trazas que conforman el material en general. El refinamiento estructural de la espesartina fue realizado mediante el método Rietveld a partir de los datos obtenidos por difracción convencional y con ayuda del software de análisis MDI RIQAS. Con los datos adquiridos por mDXR usando un detector de área, un menor tiempo de exposición (comparado con el requerido en detectores 0D y 1D) y sin la necesidad de la disminución del tamaño de partícula del mineral, fue posible la identificación de la espesartina y otros compuestos en menor concentración (mediciones "in situ"). Mediante la combinación de las técnicas de microscopía electrónica de barrido y microdifracción de rayos X, tanto de trabajo desde un punto de vista de la caracterización. El examen por difracción de micro-rayos X no requiere la separación física de la muestra. Usando esta información y las técnicas analíticas avanzadas anteriores, la identificación de granate puede ser mucho más fiable.
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad Nacional de Colombia (Sede Medellín). Facultad de Minas.
dc.relationhttps://revistas.unal.edu.co/index.php/dyna/article/view/46360
dc.relation.ispartofUniversidad Nacional de Colombia Revistas electrónicas UN Dyna
dc.relation.ispartofDyna
dc.rightsDerechos reservados - Universidad Nacional de Colombia
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/
dc.subject.ddc62 Ingeniería y operaciones afines / Engineering
dc.titleNon-destructive in situ analysis of garnet by combining scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques
dc.typeArtículo de revista
dc.type.driverinfo:eu-repo/semantics/article
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.identifier.eprintshttp://bdigital.unal.edu.co/58918/
dc.relation.referencesBonilla-Jaimes, John Deiver and Henao-Martínez, Jose Antonio and Mendoza-Luna, Carolina and Castellanos-Alarcón, Oscar Mauricio and Ríos-Reyes, Carlos Alberto (2016) Non-destructive in situ analysis of garnet by combining scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques. DYNA, 83 (195). pp. 84-92. ISSN 2346-2183
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subject.proposalscanning electron microscopy
dc.subject.proposalmicro X-ray diffraction
dc.subject.proposalanalytical techniques
dc.subject.proposalmineral
dc.subject.proposalgarnet.
dc.type.coarhttp://purl.org/coar/resource_type/c_6501
dc.type.coarversionhttp://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
dc.type.contentText
dc.type.redcolhttp://purl.org/redcol/resource_type/ART
oaire.accessrightshttp://purl.org/coar/access_right/c_abf2


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