Atribución-NoComercial 4.0 InternacionalCediel, G.Caicedo, L. M.Flórez, M.Gordillo, G.2019-06-282019-06-281993https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/44895En este trabajo se estudia el efecto de las temperaturas del sustrato y de evaporación, de la distancia entre el evaporador y el sustrato sobre la fase y la orientación cristalográfica de películas delgadas de CdS, preparadas por el método de sublimación en espacio semicerrado (C.S.S.) usando la técnica de difracción de rayos-x.In this work we study the effect of substrate and evaporation temperatures and substrate-evaporator distance on the phase and crystallographic orientation of CdS thin films prepared by the C.S.S. method using the x-ray diffraction technique.application/pdfspaDerechos reservados - Universidad Nacional de Colombiahttp://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/Artículo de revistahttp://bdigital.unal.edu.co/34995/info:eu-repo/semantics/openAccessTemperaturas del sustratoEvaporaciónDifracción de rayos-x.