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Efectos estructurales en el semiconductor insb, por la aplicación de diferentes métodos de presión
dc.rights.license | Atribución-NoComercial 4.0 Internacional |
dc.contributor.author | Rincón Joya, Miryam |
dc.contributor.author | Barba Ortega, José José |
dc.contributor.author | Pizani, Paulo S. |
dc.date.accessioned | 2019-06-28T02:15:12Z |
dc.date.available | 2019-06-28T02:15:12Z |
dc.date.issued | 2012 |
dc.identifier.uri | https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/38064 |
dc.description.abstract | En este trabajo se estudia las modificaciones sufridas por el antimoneto de indio (InSb), crecido en la dirección [100], cuando es sometido a testes de micro-indentación mecánica, altas presiones hidrostáticas y presión por impacto. Los estudios topográficos y tomográficos de las muestras fueron hechos por medio de espectroscopia micro-Raman con diferentes longitudes de onda de la luz de excitación. El corrimiento de la posición de los fonones y el surgimiento de nuevos picos Raman permite el análisis tanto químico como estructural del sistema en estudio. |
dc.format.mimetype | application/pdf |
dc.language.iso | spa |
dc.publisher | Universidad Nacional de Colombia Sede Medellín |
dc.relation | http://revistas.unal.edu.co/index.php/dyna/article/view/26114 |
dc.relation.ispartof | Universidad Nacional de Colombia Revistas electrónicas UN Dyna |
dc.relation.ispartof | Dyna |
dc.relation.ispartofseries | Dyna; Vol. 79, núm. 175 (2012); 137-141 DYNA; Vol. 79, núm. 175 (2012); 137-141 2346-2183 0012-7353 |
dc.rights | Derechos reservados - Universidad Nacional de Colombia |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/ |
dc.title | Efectos estructurales en el semiconductor insb, por la aplicación de diferentes métodos de presión |
dc.type | Artículo de revista |
dc.type.driver | info:eu-repo/semantics/article |
dc.type.version | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.identifier.eprints | http://bdigital.unal.edu.co/28150/ |
dc.relation.references | Rincón Joya, Miryam and Barba Ortega, José José and Pizani, Paulo S. (2012) Efectos estructurales en el semiconductor insb, por la aplicación de diferentes métodos de presión. Dyna; Vol. 79, núm. 175 (2012); 137-141 DYNA; Vol. 79, núm. 175 (2012); 137-141 2346-2183 0012-7353 . |
dc.rights.accessrights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject.proposal | Raman |
dc.subject.proposal | presión |
dc.subject.proposal | indentación |
dc.subject.proposal | Insb |
dc.subject.proposal | transformación estructural de fase. |
dc.type.coar | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
dc.type.coarversion | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |
dc.type.content | Text |
dc.type.redcol | http://purl.org/redcol/resource_type/ART |
oaire.accessrights | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 |
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