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The corrosion resistance and microstructure of ubm system-deposited nbxsiynz thin films
dc.rights.license | Atribución-NoComercial 4.0 Internacional |
dc.contributor.author | Velasco Estrada, Leonardo |
dc.contributor.author | Olaya Florez, Jhon Jairo |
dc.contributor.author | Rodríguez Baracaldo, Rodolfo |
dc.date.accessioned | 2019-07-03T14:16:40Z |
dc.date.available | 2019-07-03T14:16:40Z |
dc.date.issued | 2012 |
dc.identifier.uri | https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/71097 |
dc.description.abstract | NbxSiyNz thin film nanostructure was grown using the unbalanced magnetron sputtering (UBM) technique with varying Si content. Corrosion resistance was evaluated by potentiodynamic polarisation technique in a 3% NaCl solution. Microstructure was analysed by X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM) and laser scanning microscopy. Chemical composition was ascertained by X-ray fluorescence (XRF) technique. The results showed that deposition rates increased with higher Si content. A microstructural change was observed for greater than 5% Si content through the transition from a crystalline to an amorphous structure in the thin films. Corrosion test results demonstrated that the thin films having the highest silicon content had better corrosion resistance. |
dc.description.abstract | En este trabajo se produjeron recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz sobre acero inoxidable AISI 304 mediante la técnica del UBM (unbalanced magnetrón - sputtering con magnetrón desbalanceado), variando el contenido de Si, y se evaluó su resistencia frente al fenómeno corrosivo por medio de la técnica de polarización potenciodinámica en una solución al 3% de NaCl. La microestructura de los recubrimientos se analizó por medio de XRD (X ray diffraction - difracción de rayos X), SEM (scanning electron microscopy - microscopia electrónica de barrido) y microscopia láser confocal. La composición química se identificó con la técnica XRF (X ray fluorescence - fluorescencia de rayos X). Como resultado las tasas de depósito se incrementaron con la adición de Si, además se observó un cambio en la microestructura para contenidos superiores a 5% de Si, mediante la transición de un recubrimiento cristalino a amorfo. Finalmente, los resultados de corrosión sugieren que los recubrimientos con un alto contenido de silicio tienen un mejor comportamiento frente a la corrosión del sistema. |
dc.format.mimetype | application/pdf |
dc.language.iso | spa |
dc.publisher | Universidad Nacional de Colombia - Facultad de Ingeniería |
dc.relation | http://revistas.unal.edu.co/index.php/ingeinv/article/view/35932 |
dc.relation.ispartof | Universidad Nacional de Colombia Revistas electrónicas UN Ingeniería e Investigación |
dc.relation.ispartof | Ingeniería e Investigación |
dc.relation.ispartofseries | Ingeniería e Investigación; Vol. 32, núm. 3 (2012); 10-13 Ingeniería e Investigación; Vol. 32, núm. 3 (2012); 10-13 2248-8723 0120-5609 |
dc.rights | Derechos reservados - Universidad Nacional de Colombia |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/ |
dc.title | The corrosion resistance and microstructure of ubm system-deposited nbxsiynz thin films |
dc.type | Artículo de revista |
dc.type.driver | info:eu-repo/semantics/article |
dc.type.version | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.identifier.eprints | http://bdigital.unal.edu.co/35567/ |
dc.identifier.eprints | http://bdigital.unal.edu.co/35567/2/ |
dc.relation.references | Velasco Estrada, Leonardo and Olaya Florez, Jhon Jairo and Rodríguez Baracaldo, Rodolfo (2012) The corrosion resistance and microstructure of ubm system-deposited nbxsiynz thin films. Ingeniería e Investigación; Vol. 32, núm. 3 (2012); 10-13 Ingeniería e Investigación; Vol. 32, núm. 3 (2012); 10-13 2248-8723 0120-5609 . |
dc.rights.accessrights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject.proposal | Mechanical Engineering |
dc.subject.proposal | Material engineering |
dc.subject.proposal | Corrosion |
dc.subject.proposal | diffraction |
dc.subject.proposal | spectroscopy |
dc.subject.proposal | fluorescence |
dc.subject.proposal | microstructure |
dc.subject.proposal | microscopy |
dc.subject.proposal | race track |
dc.subject.proposal | x ray |
dc.subject.proposal | thin film |
dc.subject.proposal | sputtering |
dc.subject.proposal | polarisation |
dc.subject.proposal | Corrosión |
dc.subject.proposal | Difracción |
dc.subject.proposal | Espectroscopia |
dc.subject.proposal | Fluorescencia |
dc.subject.proposal | Microestructura |
dc.subject.proposal | Microscopia |
dc.subject.proposal | race track |
dc.subject.proposal | Rayos X |
dc.subject.proposal | Recubrimientos |
dc.subject.proposal | Sputtering |
dc.subject.proposal | Polarización |
dc.type.coar | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
dc.type.coarversion | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |
dc.type.content | Text |
dc.type.redcol | http://purl.org/redcol/resource_type/ART |
oaire.accessrights | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 |
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