Estudio de sensibilidad en las mediciones colorimétricas de fuente de luz debidas a desviación en la calibración en longitud de onda e intensidad en el rango visible del espectrómetro

Abstract

Este documento presenta el resultado del efecto de la incertidumbre de medición en el cálculo del Índice de Rendimiento de Color (CRI) cuando el instrumento de medición tiene error en intensidad o longitud de onda. Se muestra la distribución normal que obtiene; usando el método de NIST (Yoshi Onho) [1], y calculado la CCT con el estándar del CIE [2]. Además, se presenta el algoritmo y software creado y utilizado para el cálculo de incertidumbre en el CRI y TM30 [3]. De igual forma se muestra el error como el logaritmo de la diferencia para el listado de luminarias propuesto. Se analiza y discute para cada índice Ri del CRI y el efecto de calidez a través de un mapa de calor cuando se usa diferente observador colorimétrico CIE en el proceso y se comparan los resultados. También se compara el tiempo de máquina e iteraciones de dos métodos de optimización de búsqueda propuestos para el método NIST, y el método estándar de la CIE para el CCT. Obteniendo como salida la disminución de tiempo de máquina con respecto método NIST original, pero no mejor que al método estándar CIE. (Texto tomado de la fuente)

In this document presents the uncertainty effect on the Color Rendering Index (CRI) result when the measuring machine has a width or wavelength error. Also it shows the normal distribution that it gets; using in the method NIST (Yoshi Onho) [1], and resolving the CCT with CIE standard [2]. Furthermore, we present the algorithm and the software created and used to calculate the uncertainty in the CRI and IES TM30 [3]. In Adition, we present the error as a Logarithm normal difference with the luminaries list proposed. We analyzate and discuss for each index Ri’s CRI and the warm effect along the heat map when it uses different colorimetric observer CIE in the process and compares the results. Also it compares the execution time and iteration for two optimizated search’s NIST’s methods and standard CCT CIE method. We get as a result that the execution time decrease against the base NIST method, but not much better that the standart CIE method.