Física

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    Propiedades ópticas de silicio policristalino depositado a diferentes frecuencias
    (2009) Garzón, Angel Dario
    El presente trabajo recoge el estudio de propiedades las ópticas de películas delgadas de silicio policristalino, con el propósito de ser usadas como capa absorbente en celdas solares, este material ha generado gran interés en el desarrollo de nuevos dispositivos opto-electrónicos, en donde una de las mayores ventajas sobre el silicio amorfo es su estabilidad frente a la exposición a la luz y su baja temperatura de deposición. Para tal propósito se midieran películas delgadas de silicio policristalino, depositadas por la técnica PECVD (Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition) las constantes ópticas: el gap (Eg), índice de refracción (n), coeficiente de absorción (a) y el espesor (d) de las muestras. Estos constantes se obtendrán a partir de mediciones de transmitancia en función de la longitud de onda, utilizando el método de Swanepoel.
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    Aplicación de las Ecuaciones de Maxwell en el dominio de la frecuencia, al análisis electromagnético de un medio rocoso
    (2012-01-03) Duran Neme, Javier Alejandro
    Se realiza un análisis de los fundamentos físicos de los métodos electromagnéticos en Geofísica, a partir del comportamiento del campo electromagnético en medios materiales. Se presenta el desarrollo matemático dado en la solución de un modelo que aproxima el comportamiento electromagnético de la subsuperficie, conformando un sistema de capas paralelas, homogéneas e isotrópicas. Se plantea y resuelve el problema directo en geoeléctrica, implementando un algoritmo para tal fin y comparando sus resultados con los de un software de interpretación especializado: IP2win. Como parte del “Proyecto Borde Norte de Bogotá”, se participa en el levantamiento, proceso, e interpretación geofísica, estableciendo resultados que aportan al sustento de la declaratoria de la reserva forestal regional del norte (RFRN. / Abstract. This work presents an analysis of the physical principles of the electromagnetic methods in Geophysics, based on the behaviour of the electromagnetic field in matter. The mathematical computation is done for the solution of a model which approximates the electromagnetic behaviour of the subsurface, making a system of parallel, homogeneous and isotropic layers. The direct problem in geoelectrics is solved, creating an algorithm for this purpose and comparing its results with those of specialized interpretation software: IP2win. As part of the project ‘Proyecto Borde Norte de Bogotá’, it is participated in the field work, process, and geophysical interpretation, providing results that contribute to support the declaration of the Northern Regional Forest Reserve (RFRN in Spanish).
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    Propiedades morfológicas y estructurales de películas delgadas de Cu3BiS3 a través de la microscopía de fuerza atómica
    (2009) Cruz Fernández, Mauro Ignacio; Dussan Cuenca, Anderson (Thesis advisor)
    En este trabajo presentamos los resultados obtenidos de la caracterización morfológica y estructural de películas delgadas de Cu3BiS3, a través de las técnicas de microscopía de fuerza atómica (AFM), microscopia de barrido electrónico (SEM) y difracción de rayos X en haz razante (XRD). Las muestras fueron fabricadas por medio de evaporación secuencial de las especies metálicas Bi y Cu, en una atmosfera rica en S. A partir de las imágenes de AFM se pudo observar un crecimiento en forma de placas en la superficie gobernado por regiones aisladas atribuidas a granos característicos del material. La fase Cu3BiS3 fue evidenciada en los espectros de XRD y se observa un crecimiento ortorrómbico indexando todos los picos del espectro. Un cálculo a partir de medidas de la altura media de los picos usando la fórmula de Scherrer permitió encontrar un valor para el tamaño de grano característico alrededor de 20 nm. No se observó presencia de impurezas en el material como consecuencias de las etapas de deposición. A partir del refinamiento de los espectros de XRD por el método Rietveld se observa un buen ajuste entre los obtenidos experimentalmente y los simulados por el modelo. Se presenta una correlación entre los parámetros de deposición y las propiedades de crecimiento del material. / Abstract. In this work, we presents the morphological and structural properties of Cu3BiS3 thin films. We used atomic force microscopy (AFM), scanning electron microscopy (SEM) and X-ray diffraction (XRD). The samples were fabricated by sequential evaporation of metallic species Cu and Bi in an atmosphere rich in S. From the AFM images was seen as a growth plate in the area ruled by isolated grains attributed to characteristics of the material. Cu3BiS3 phase was evidenced in the XRD spectra and there was an increase orthorhombic indexing all the peaks of the spectrum. We calculated from measurements of the average height of the peaks using the Scherrer formula to find a possible value for the typical grain size around 20 nm. Not observe the presence of impurities in the material as a result of the stages of deposition. From the refinement of the XRD spectra by the Rietveld method shows a good match between the experimentally obtained and simulated by the model. A correlation between deposition parameters and properties of material growth is presented.