Determinación de exponentes críticos en películas delgadas. Aplicación en Cr-Gd-Cr
Author
Type
Trabajo de grado - Maestría
Document language
EspañolPublication Date
2012Metadata
Show full item recordSummary
En el presente trabajo se utilizó el diagrama de Arrot– Noakes modificado para estudiar la transición de fase ferromagnética-paramagnética de láminas con alto grado de homogeneidad de muestras recocidas a 200°C, 400°C y 500°C, de Cr-Gd-Cr. Se estimaron valores para los exponentes críticos de β, γ y δ que caracterizan la transición. Así mismo, se llevó a cabo el cálculo de la temperatura crítica Tc para cada muestra. Al final se propone un nuevo método para calcular los exponentes críticos para materiales con bajo grado de inhomogeneidad cuando el método de Kouver– Fisher no converge. Los resultados son contrastados con los obtenidos mediante el método de Andreas Berger et.al, para hallar exponentes críticos y Tc, en materiales magnéticos inhomogeneos (Texto tomado de la fuente)Abstract
In the present work the Arrot– Noakes modified diagram was used to study the ferromagnetic – paramagnetic phase transition in layers with high grade of homogeneity of annealed samples at 200°C, 400°C and 500°C, of Cr-Gd-Cr. Values for critical exponents β, γ and δ were estimated to characterize the transition. Likewise, the calculus of the critical temperature Tc for each sample was developed. Finally, a new method to calculate critical exponents for materials with low grade of inhomogeneity is proposed, when Kouvel-Fisher method don't converge. The results are contrasted with the method of Andreas et.al., to find critical exponents and Tc, in ihnomogeneous magnetic materialsKeywords
Collections
