Thickness dependence on superconducting and structural properties of thin fese0,5te0,5 films

Abstract

In the present work the influence of the layer thickness of FeSe0,5Te0,5 on the crystalline and superconducting properties of films deposited on iron (Fe) buffered MgAl2O4 substrates by pulsed laser deposition (PLD) is investigated. The superconducting layer thicknesses of the films prepared are ~55nm and ~134nm. The film with thinner superconducting layer shows better texture properties (oriented growth) and lower surface roughness (RMS); verified by X ray diffraction and AFM respectively. This film shows a sharp transition to the superconducting state and a higher critical temperature in contradiction to the thicker one. The thickness effect on superconducting lattice strain is discussed.

En este trabajo se investiga la influencia del espesor de la capa de FeSe0,5Te0,5 en las propiedades cristalinas y superconductoras de las películas depositadas sobre una capa buffer de hierro (Fe) en sustratos de MgAl2O4, por el método de deposición por láser pulsado (PLD). El espesor de las capas superconductoras producidas son ~55nm y ~134nm. La película con menor espesor presenta mejores propiedades de textura (crecimiento orientado) y una menor rugosidad superficial (RMS); verificadas por difracción de rayos X y AFM respectivamente. Esta misma película presenta una transición marcada al estado superconductor y una mayor temperatura crítica a diferencia de la película de mayor espesor. Se discute el efecto del espesor en las tensiones de la red superconductora.