Nanoscopias in situ
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Autores
López Carreño, Luis Demetrio
Director
Tipo de contenido
Artículo de revista
Idioma del documento
EspañolFecha de publicación
1998
Título de la revista
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Título del volumen
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Resumen
En este trabajo se muestra la posibilidad de estudiar tanto la estructura atómica y electrónica de una superficie así como su interacción con moléculas simples mediante los microscopios de sonda de barrido (SPMs), también llamados nanoscopios. Se hace énfasis en el microscopio de barrido de efecto túnel (STM) y en el microscopio de fuerza atómica (AFM). En cada caso se da una descripción del instrumento, de sus modos de operación y se presentan algunas ap licaciones interesantes.
In this paper, the possibility of studying both the atomic and electronic structures of a surface as well as the interaction with simple molecules through the Scanning Probe Microscopes (SPMs) is shown. Emphasis on the Scanning Tunneling Microscope (STM) and on the Atomic Force Microscope (AFM) it is made. For each case a description of the instrument, of their operation modes is presented. Sorne interesting applications are also shown.
In this paper, the possibility of studying both the atomic and electronic structures of a surface as well as the interaction with simple molecules through the Scanning Probe Microscopes (SPMs) is shown. Emphasis on the Scanning Tunneling Microscope (STM) and on the Atomic Force Microscope (AFM) it is made. For each case a description of the instrument, of their operation modes is presented. Sorne interesting applications are also shown.